薄膜測(cè)量
薄膜測(cè)量
該系統(tǒng)為單層膜測(cè)量提供了所需的測(cè)量工具，包括反射探頭和支架，可以測(cè)量的膜層厚度從 10 nm 到 50μm， 分辨率可達(dá) 1 nm，測(cè)量范圍從紫外 / 可 見(jiàn)到近紅外（200-1100 nm）。
典型應(yīng)用領(lǐng)域
半導(dǎo)體工業(yè)
太陽(yáng)能電池板
鍍膜
訂購(gòu)信息
AvaSpec—Thin Film
光譜儀 | AvaSpec-ULS2048CL-EVO | Grating UA (200-1100nm) OSC-UA |
光源 | Avalight-DHc | PS-12V/1.0A |
光纖 | FCR-7UVIR200-2-ME | |
附件 | THINFILM-STAGE 支架和標(biāo)準(zhǔn)板 |